IGF



Komercyjne udostępnienie aparatury

Regulamin komercyjnego udostępniania Infrastruktury badawczej Wydziału Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego z dnia 29.05.2025r.

  1. Niniejszy regulamin określa zasady komercyjnego udostępniania infrastruktury badawczej będącej w dyspozycji Wydziału Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego
  2. Listę aparatury dostępnej komercyjnie zawiera Załącznik nr 1. Lista może ulegać zmianom. Aktualna lista będzie publikowana na stronie internetowej Wydziału Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego.
  3. Udostępnianie Infrastruktury na rzecz podmiotów zewnętrznych odbywa się na podstawie umowy dwustronnej.
  4. Dziekan Wydziału Fizyki może wyrazić zgodę na udostępnianie wybranej infrastruktury na podstawie zlecenia.
  5. Dziekan Wydziału Fizyki UW wskazuje osobę odpowiedzialną za realizację umowy i nadzór nad jej wykonaniem.
  6. Udostępnianie infrastruktury badawczej Wydziału Fizyki UW jest co do reguły odpłatne. Ostateczna cena za usługę obliczana jest na podstawie konkretnego zapotrzebowania oraz cen jednostkowych wymienionych w cenniku stanowiącym Załącznik nr 2 do niniejszego regulaminu. Cennik może ulegać zmianom. Aktualna wersja cennika będzie publikowana na stronie internetowej Wydziału Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego.
  7. W szczególnych, uzasadnionych przypadkach Dziekan Wydziału Fizyki UW może podjąć decyzję o zwolnieniu lub redukcji opłat.
  8. Korzystanie z aparatury dostępnej komercyjnie przez osoby niebędące pracownikami WF UW jest możliwe wyłącznie po odbyciu przez te osoby szkolenia BHP oraz szkolenia na stanowisku pracy

Cennik komercyjnego udostępnienia aparatury znajdującej się w IGF:

(*) Cena netto zwiera 20% narzutu UW zgodnie z rozporządzeniem Rektora UW. Cena podana w EUR będzie przeliczana na złotówki zgodnie z kursem z dnia podpisania umowy.

l.p. Aparatura Typ usługi Cena netto (*) Uwagi
1 Infrastruktura badawcza RS-Lab Dedykowane eksperymenty i
integracja danych przy
użyciu instrumentów
pomiarowych RS-Lab
410 Euro Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy)
2 Infrastruktura badawcza RS-Lab Optymalizacja i testowanie
nowoczesnych rozwiązań technologicznych
410 Euro Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy)
3 Infrastruktura badawcza RS-Lab Klasyfikacja aerozoli i ocena ich źródeł w przypadku transportu na
duże odległości
410 Eur Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy)
4 Infrastruktura badawcza RT-Lab Pomiary wzrostu higroskopijnego
aerozolu atmosferycznego
410 Euro Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy)
5 Infrastruktura badawcza RT-Lab Profilowanie dolnej atmosfery z
wykorzystaniem drona
410 Euro Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy)
6 Infrastruktura badawcza RT-Lab Modelowanie i pomiary transferu
promieniowania w atmosferze
410 Euro Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy)
7 Elipsometr RC2 Woollam
NLPQT ZOI
Precyzyjne pomiary współczynnika załamania (n) i ekstynkcji (k), dwójłomności (Δn), transmisji, odbicia oraz grubości cienkowarstwowych struktur w funkcji kąta padania i w zakresie spektralnym 193–1690 nm, z wykorzystaniem technik elipsometrii spektroskopowej. 250 zł / próbka,
w przypadku
materiałów
niestandardowych
350zł/ h
W ramach pomiaru elipsometrycznego zapewniamy kompleksowe modelowanie danych, w tym ekstrakcję parametrów optycznych i strukturalnych. Możliwość pomiaru w funkcji temperatury próbki w zakresie - 70°C to 600°C
8 Elipsometr IR-VASE
Mark2 Woollam
NLPQT ZOI
Precyzyjne pomiary współczynnika załamania (n) i ekstynkcji (k), dwójłomności (Δn), transmisji, odbicia oraz grubości cienkowarstwowych struktur w funkcji kąta padania i w zakresie spektralnym 1690–30000 nm, z wykorzystaniem technik elipsometrii spektroskopowej. 350 zł / próbka,
w przypadku
materiałów
niestandardowych
450zł/ h
W ramach pomiaru elipsometrycznego zapewniamy kompleksowe modelowanie danych, w tym ekstrakcję parametrów optycznych i strukturalnych. Możliwość pomiaru w funkcji temperatury próbki w zakresie - 70°C to 600°C
9 Skaningowy mikroskop
elektronowy z
przystawką do
mikroanalizy
rentgenowskiej (Zeiss
Sigma HV)
NLPQT ZOI
Pomiary topografii powierzchni i/lub składu pierwiastkowego 250 zł /h  
10 Napylarka próżniowa
wiązką elektronów
(Lesker PVD 75)
NLPQT ZOI
Naparowywanie cienkich warstw
metalicznych i dielektrycznych o
grubościach do 300 nm
350 zł /h + koszt
materiału
Możliwość użycia działa jonowego i obrotu talerza
11 Stanowisko do
testowania
metamateriałów i
trójwymiarowych
nanostruktur
fotonicznych w zakresie spektralnym 193 - 16000 nm.
NLPQT ZOI
- pomiar własności dyspersyjnych metodą interferometrii spektralnej
- pomiar generacji wyższych harmonicznych
- pomiar nieliniowości metodą z-scan
- pomiar dynamiki przejść elektronowych metodą pompa-sonda
- pomiar własności dyfrakcyjnych
500 zł /h  
12 Stanowisko do litografii interferencyjnej w
ultrafiolecie
NLPQT ZOI
- naświetlanie materiałów fotoczułych
- modyfikacja powierzchni
impulsowym promieniowaniem
laserowym o długości fali 1030nm z wykorzystaniem lasera femtosekundowego i skanera galvo
- Preparatyka i modyfikacja próbek: czyszczenie i trawienie
plazmowe, spin-coating
- cięcie i grawerowanie próbek laserem CO2
350 zł /h