IGF



Master of Science Dissartation

Scanning Near-field Optical Microscopy Probes - Manufacturing and Characterisation

Author:

Promoter:

Promoting institution:

Year:

Piotr Sakowicz

prof. dr hab. Tomasz Szoplik

Wydział Fizyki UW

2011

Niniejsza praca magisterska zajmuje się zagadnieniem wytwarzania i charakteryzacji sond do skanującego mikroskopu optycznego pola bliskiego. W teoretycznej części pracy została krótko opisana historia mikroskopii z uwzględnieniem ograniczenia rozdzielczości przestrzennej mikroskopów, przedstawiono również zagadnienia pracy w polu bliskim, sprzęgania światła do plazmonów-polarytonów oraz technologię wytwarzania sond SNOM. W części doświadczalnej opisano proces trawienia światłowodów metodą Turnera oraz metodą trawienia w osłonie oraz dokonano charakteryzacji otrzymanych sond: wyznaczono prędkość i optymalny czas trawienia oraz podjęto próbę pomiaru kątów wierzchołkowych.


Back